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材料分析測試技術(shù)章節(jié)練習(xí)(2020.05.31)

判斷題
當(dāng)高速電子的能量全部轉(zhuǎn)換為x射線光子的能量時(shí)產(chǎn)生λ0，此時(shí)強(qiáng)度最大，能量最高。
答案：錯(cuò)誤
單項(xiàng)選擇題
由于入射電子波長的非單一性造成的像差稱為（）
A、球差
B、像散
C、色差
D、背散
問答題
要分析鋼中碳化物成分和基體中碳含量，應(yīng)選用什么儀器？為什么？
答案：應(yīng)選用電子探針儀，或配置了X射線波譜儀或X射線能譜儀的透射電鏡（或掃描電鏡）。因?yàn)檫@些電子顯微分析儀不但可以放大觀察鋼的...
問答題
表面形貌襯度和原子序數(shù)襯度各有什么特點(diǎn)？
答案：表面形貌襯度是由于試樣表面形貌差別而形成的襯度。利用對試樣表面形貌變化敏感的物理信號調(diào)制成像，可以得到形貌襯度圖像。形貌...
問答題
金剛石晶體屬面心立方點(diǎn)陣，每個(gè)晶胞含8個(gè)原子，坐標(biāo)為：（0，0，0）、（1/2，1/2，0）、（1/2，0，1/2）、（0，1/2，1/2）、（1/4，1/4，1/4）、（3/4，3/4，1/4）、（3/4，1/4，3/4）、（1/4，3/4，3/4），原子散射因子為fa，求其系統(tǒng)消光規(guī)律（F2最簡表達(dá)式），并據(jù)此說明結(jié)構(gòu)消光的概念。
答案：
填空題
透射電鏡的主要特點(diǎn)是可以進(jìn)行（）與（）的同位分析，既可以進(jìn)行成像操作又可以進(jìn)行衍射操作。
答案：組織形貌；晶體結(jié)構(gòu)
問答題
實(shí)驗(yàn)室有X射線衍射儀器，掃描電鏡，電子探針、透射電鏡、X射線光電子能譜儀和差示掃描量熱儀等測試儀器，現(xiàn)對非晶塊體材料AmBn進(jìn)行分析：（a）AmBn熱穩(wěn)定性分析；（b）結(jié)構(gòu)分析；（c）物相分析。試確定實(shí)驗(yàn)方案，并指出分析目的。
答案：A.差示掃描熱議：定量測定多種熱力學(xué)和動(dòng)力學(xué)參數(shù)；
B.透射電鏡：目的是對材料的晶體結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析；
...
問答題
為什么說X衍射線束的強(qiáng)度與晶胞中的原子位置和種類有關(guān)？
答案：因?yàn)閄射線強(qiáng)度取決于結(jié)構(gòu)因子F，而結(jié)構(gòu)因子會(huì)因晶胞中的原子位置和種類而不同。所以說X衍射線束的強(qiáng)度與晶胞中的原子位置和種...
問答題
直進(jìn)式波譜儀和回轉(zhuǎn)式波譜儀各有什么優(yōu)特點(diǎn)？
答案：直進(jìn)式波譜儀優(yōu)點(diǎn)是X射線照射分光晶體的方向是固定的，即出射角ψ保持不變，這樣可以使X射線穿出樣品表面過程中所走的路線相同...
問答題
如何用紅外光譜跟蹤二氧化硅濕凝膠變?yōu)楦赡z的過程？
答案：可采用在線跟蹤測試，分別測試不同時(shí)間樣品的紅外譜圖；其次，若變化過程很慢，可采用不同時(shí)間取樣來測試，綜合圖譜以獲得跟蹤結(jié)...

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