A.托盤天平 B.分析天平 C.十萬(wàn)分之一天平 D.百萬(wàn)分之一天平
A.Hg2+,Pb2+,Cu2+ B.Fe3+,Ag+,Ca2+ C.Ca2+,F(xiàn)e3+,Cr3+ D.Ag+,Ca2+,Mg2+
A.1℃ B.0.1℃ C.0.5℃ D.0.01℃
A.檢測(cè)器的位置 B.光路系統(tǒng) C.外光路系統(tǒng) D.以上都不對(duì)
A.多次測(cè)定結(jié)果平均值 B.檢出限 C.每次的測(cè)量值 D.真值
A.查看來(lái)樣是否與隨同文字描述一致,并記錄 B.獲取樣品來(lái)源的詳細(xì)信息,并記錄 C.是否有協(xié)議測(cè)定項(xiàng)目,并記錄 D.確定測(cè)試時(shí)間及方法
A.催化劑 B.氧化劑 C.還原劑 D.提高硫酸的沸點(diǎn)