A.低頻聲波衰減小 B.波長不適合 C.近表面分辨力不夠 D.上述三種實際上都不會限制這樣的檢驗
A.在而平的缺陷與入射聲束取向不良 B.疏松 C.大晶粒 D.上述三種都可能引起這種情況
A.24dB B.6dB C.40dB D.100dB
A.母材寬度的30% B.母材厚度的30% C.母材的寬度1/2 D.母材厚度1/2
A.較低頻率的探頭 B.較粘的耦合劑 C.軟保護膜探頭 D.以上都對
A.缺陷尺寸 B.缺陷方位 C.缺陷類型 D.以上都是
A.0.25兆赫 B.小于2兆赫 C.5~15兆赫 D.上述三種都可以
A.25~500mm B.50~500mm C.100~500mm D.25~250mm
A.1dB B.2dB C.3dB D.6dB
A.400安 B.600安 C.800安 D.1000安