材料研究方法章節(jié)練習(xí)(2020.01.06)

問答題
試簡(jiǎn)述判斷分子離子峰的方法。
答案：1.分子離子穩(wěn)定性的一般規(guī)律；
2.分子離子峰質(zhì)量數(shù)的規(guī)律；
3.分子離子峰與鄰近峰的質(zhì)量差是否合理...
問答題
X射線衍射實(shí)驗(yàn)主要有哪些方法？它們各有哪些應(yīng)用？
答案：X.射線衍射方法：粉末法、勞厄法、轉(zhuǎn)晶法三種。
粉末法在晶體學(xué)研究中應(yīng)用最廣泛，試驗(yàn)方法及試樣制備簡(jiǎn)單，所以在科...
多項(xiàng)選擇題
為獲得大景深，可以考慮（）
A.減小數(shù)值孔徑
B.降低放大倍數(shù)
C.鏡頭靠近樣品
問答題
簡(jiǎn)述質(zhì)譜儀的組成及組成部分的作用。
答案：離子源（將被分析的氣體或者蒸汽轉(zhuǎn)化為離子）、質(zhì)量分析器（將離子按質(zhì)荷比順序分開并排列成譜）、檢測(cè)器（檢測(cè)不同質(zhì)荷比離子的...
問答題
簡(jiǎn)述電子顯微鏡的原理（放大及分辨率）和主要類型。
答案：電子顯微分析是利用聚焦電子束與試樣物質(zhì)相互作用產(chǎn)生的各種物理信號(hào)分析試樣的微區(qū)形貌、晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)組成，主要有透射電鏡T...
問答題
簡(jiǎn)述TEM的樣品制備及主要類型。
答案：經(jīng)懸浮分散的超細(xì)粉末顆粒（支持膜法）——直接樣品；
材料薄膜（晶體薄膜法和超薄切片法）...
問答題
為什么透射電鏡的樣品要求非常薄，而掃描電鏡無此要求？
答案：透射電鏡中，電子束穿透樣品成像，而電子束的投射本領(lǐng)不大，這就要求將試樣制成很薄的薄膜樣品；掃描電鏡是通過電子束轟擊樣品表...
問答題
用紅外光譜法、拉曼光譜法、核磁共振波譜法和裂解氣相色譜－質(zhì)譜聯(lián)用分析法分析高分子鏈結(jié)構(gòu)各得到哪些信息？
答案：紅外光譜法主要獲得高分子鏈中含有哪些極性基團(tuán)的信息；拉曼光譜法主要獲得高分子鏈的骨架結(jié)構(gòu)信息；核磁共振波譜法主要獲得高分...
判斷題
油鏡的最大數(shù)值孔徑小于干鏡的最大數(shù)值孔徑。
答案：錯(cuò)誤
問答題
描述X射線與物質(zhì)的相互作用（俄歇效應(yīng)和光電效應(yīng)）。
答案：補(bǔ)充俄歇效應(yīng)：當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí)，所釋放的能量隨即在原子內(nèi)部被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子，此稱為俄歇效應(yīng)...