多項(xiàng)選擇題

集成電路的電學(xué)測試包括功能測試和參數(shù)測試，以下屬于電學(xué)測試的為（）。

A.電流
B.電場強(qiáng)度
C.電壓
D.阻抗

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單項(xiàng)選擇題

以下電子產(chǎn)品的測試方法，屬于破壞性測試的為（）。

A.選擇性剝層
B.透射電鏡掃描
C.X射線檢測
D.紅外光譜分析

單項(xiàng)選擇題

要觀察半導(dǎo)體器件上的針眼和小孔、鈍化層裂縫等缺陷，應(yīng)使用（）。

A.掃描電子顯微鏡
B.光學(xué)顯微鏡
C.透射電子顯微鏡
D.原子力顯微鏡