問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】電子探針對(duì)材料的成分分析與EDXRF成分分析有何異同？

答案： （1）異：EDXRF檢測(cè)的是由X射線(xiàn)激發(fā)產(chǎn)生的熒光X射線(xiàn)，EPMA檢測(cè)的是由電子束激發(fā)產(chǎn)生的特征X射線(xiàn)。
（2...
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（2）異：
1.波長(zhǎng)...
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【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述SEM在材料研究的主要用途。
答案： （1）形貌相研究：適用于微細(xì)礦物材料的形態(tài)、解理、晶面花紋、生長(zhǎng)紋、斷口及裂理紋等表面特征和礦物顆粒的空間關(guān)系等。
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