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ICP-AES法測(cè)定多元素時(shí),在標(biāo)準(zhǔn)和分析試樣中加入過(guò)量的易電離元素,可抑制或消除。
A.物理干擾
B.化學(xué)干擾
C.電離干擾
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C.電離子干擾
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A.光譜干擾
B.化學(xué)干擾
C.電離子干擾
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