A.4次運(yùn)行測試 B.3因素2水平的實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì) C.共計(jì)32分 D.8次的拉丁方實(shí)驗(yàn)
A.控制信號因素 B.選擇高singal-to-noise比率 C.使輸出響應(yīng)對噪聲的變化不敏感 D.設(shè)計(jì)公差參數(shù)
A.元器件參數(shù)所取數(shù)值的誤差 B.用戶使用環(huán)境條件變化形成的誤差 C.重復(fù)試驗(yàn)中的隨機(jī)誤差 D.產(chǎn)品制造過程中工藝條件變化形成的誤差
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