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電路Layout設(shè)計時,晶振越靠近主芯片越好。
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當DFMEA某一失效模式對應的RPN值小于100時,一定不需要進一步分析。
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電子元器件降額設(shè)計可以延緩其參數(shù)退化,增加工作壽命,提高使用可靠性。
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