壓電晶片的振動(dòng)頻率與晶片厚度成反比關(guān)系,即晶片厚度越薄,振動(dòng)頻率越高,反之,晶片越厚,振動(dòng)頻率越低。
GTS-60試塊軌頭中¢4平底孔和¢3橫通孔用于檢測(cè)70°探頭的探測(cè)性能。