A. 不考慮探傷面耦合差的補償 B. 不考慮材質(zhì)衰減的補償 C. 不必使用試塊 D. 以上都對
A. 耦合劑 B. 探頭線 C. 儀器 D. 缺陷
A. 耦合層厚度 B. 超聲波在耦合介質(zhì)中的波長 C. 耦合介質(zhì)聲阻抗 D. 以上都對