問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述單元測(cè)試的目的。 

答案： 單元測(cè)試目的主要有以下幾點(diǎn)：
（1）檢查單元模塊內(nèi)部的錯(cuò)誤，為軟件的評(píng)審驗(yàn)收提供依據(jù)；
（2）單元測(cè)...
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問(wèn)答題

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答案： （1）黑盒測(cè)試用例設(shè)計(jì)技術(shù)如下：等價(jià)類(lèi)劃分；邊界值分析；錯(cuò)誤推測(cè)；因果圖。
（2）采用黑盒測(cè)試技術(shù)設(shè)計(jì)用例的主...
問(wèn)答題

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答案： （1）白盒測(cè)試用例的設(shè)計(jì)技術(shù)如下：邏輯覆蓋；基本路徑測(cè)試。
（2）采用白盒測(cè)試技術(shù)設(shè)計(jì)用例的目的主要是：每個(gè)模...
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