<kbd id="mhxde"><acronym id="mhxde"><u id="mhxde"></u></acronym></kbd>

<mark id="mhxde"></mark>

判斷題

A型試片上的標值15/50是指試片厚度為50μm，人為缺陷槽深為15μm。

答案：正確

你可能感興趣的試題

和磁感應線平行的裂紋性缺陷最易于形成漏磁場。

答案：錯誤

磁粉探傷時，磁感應強度方向和缺陷方向越是近乎于平行，就越是易于發(fā)現(xiàn)缺陷。

答案：錯誤

<samp id="iy27m"><label id="iy27m"></label></samp>

<li id="iy27m"><center id="iy27m"></center></li>

<big id="iy27m"></big>

<fieldset id="iy27m"><optgroup id="iy27m"></optgroup></fieldset>

<span id="iy27m"><optgroup id="iy27m"></optgroup></span>

<center id="iy27m"><tbody id="iy27m"></tbody></center>