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結(jié)晶學(xué)與巖相學(xué)判斷題每日一練(2019.08.26)
判斷題
選擇晶軸時(shí),首先考慮對(duì)稱面的法線,然后先對(duì)稱軸
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判斷題
透射電鏡能觀察表面粗糙的試樣。
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判斷題
熱分析時(shí),升溫速率過高,使分辨力下降,基線偏離水平位置的程度大
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判斷題
電子顯微鏡的分辨力比光學(xué)顯微鏡要高是因?yàn)殡娮语@微鏡精密度高
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判斷題
非晶質(zhì)體為光性均質(zhì)體,晶體為光性非均質(zhì)體
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